Caratterizzazione sperimentale dell’affidabilità di transistori GaN 650V in condizioni di stress dinamico

scadenza: 19 gennaio 2025
1 posto
21.077

Periodo di riferimento:
12 mesi
N. protocollo:
1377
Responsabile di procedimento:
Dott. Massimo Vaccari
Struttura:

CENTRO RICERCA SISTEMI ELETTRONICI INGEGN.INF. E TELECOM."ERCOLE DE CASTRO"

La domanda può essere presentata ESCLUSIVAMENTE mediante modalità telematica accedendo al sito internet https://concorsi.unibo.it
The application must be presented exclusively via web, connecting to the “FrontOffice” within the website https://concorsi.unibo.it -

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